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齒輪輪廓測(cè)量?jī)x

簡(jiǎn)要描述:SJ5730齒輪輪廓測(cè)量?jī)x高精度、高穩(wěn)定性、高重復(fù)性:滿足被測(cè)件測(cè)量精度要求。超高精度衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),具有12mm~14mm以上的大量程粗糙度測(cè)量范圍,分辨率達(dá)到1nm或更高。一次測(cè)量可同時(shí)評(píng)定粗糙度及輪廓參數(shù),顯示Ra和Pt等參數(shù)。

  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-08-10
  • 訪  問(wèn)  量:724

詳細(xì)介紹

品牌中圖儀器產(chǎn)地國(guó)產(chǎn)
加工定制

輪廓測(cè)量?jī)x是測(cè)量各種機(jī)械零件素線形狀和截面輪廓形狀的精密設(shè)備。SJ5730齒輪輪廓測(cè)量?jī)x工作臺(tái)采用高精度的橫向氣浮道軌和滾動(dòng)垂直道軌,移動(dòng)精度高、穩(wěn)定性好、壽命長(zhǎng);測(cè)量效率高、操作簡(jiǎn)單、適用于車間檢測(cè)站或計(jì)量室使用。


軸承實(shí)測(cè)圖.jpg

SJ5730齒輪輪廓測(cè)量?jī)x的測(cè)量原理為直角坐標(biāo)測(cè)量法,即通過(guò)X軸、Z軸傳感器,測(cè)繪出被測(cè)零件的表面輪廓的坐標(biāo)點(diǎn),通過(guò)電器組件,將傳感器所測(cè)量的坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔籔C機(jī),軟件對(duì)所采集的原始坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算處理,標(biāo)注所需的工程測(cè)量項(xiàng)目。


直角坐標(biāo)測(cè)量法.jpg

直角坐標(biāo)測(cè)量法


產(chǎn)品功能

1.一次測(cè)量可同時(shí)評(píng)定粗糙度及輪廓參數(shù),顯示Ra和Pt等參數(shù);

2.表面粗糙度評(píng)定: R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)等多參數(shù)評(píng)定;

3.表面輪廓評(píng)定:評(píng)定任何點(diǎn)/線間距、兩線夾角、圓弧半徑、直徑等幾何量尺寸參量,并可對(duì)輪廓進(jìn)行直線度、圓度、輪廓度、平行度、位置度、垂直度等分析,重新分析和測(cè)量的操作簡(jiǎn)潔高效;

4.尺寸標(biāo)注:半徑、兩圓中心距離、X/Z方向尺寸、斜邊尺寸、兩線夾角、圓弧至高或至低點(diǎn)、直線與直線相交、直線與圓弧相交、圓弧與圓弧相交、尺寸標(biāo)注線大小修改、線偏移、在數(shù)據(jù)圖形某點(diǎn)上加標(biāo)記、局部輪廓放大和調(diào)平等

5.形狀誤差測(cè)量:非球面形狀誤差測(cè)量、直線形狀誤差測(cè)量、弧面形狀誤差測(cè)量;

6.測(cè)量記錄采用集中式數(shù)據(jù)庫(kù)管理,可按被測(cè)件類型、生產(chǎn)單位、出廠編號(hào)、檢測(cè)員、送檢單位、設(shè)備編號(hào)、檢定日期和有效日期等查詢和管理測(cè)量記錄;

7.輸出多種格式報(bào)表(.doc,.docx,.xlsx,.pdf),并支持自定義報(bào)表,定制測(cè)量記錄報(bào)表,可批量打印記錄表,具有數(shù)據(jù)備份和還原數(shù)據(jù)庫(kù)功能;

8.具有CNC功能,CNC結(jié)果分析功能效率高;

9.具備自動(dòng)找拐點(diǎn)功能,能按照程序設(shè)置進(jìn)行X軸自動(dòng)找拐點(diǎn);

10.成熟簡(jiǎn)單的標(biāo)定,儀器自帶高精度組合標(biāo)定臺(tái),可對(duì)儀器的精度和測(cè)針磨損進(jìn)行精確補(bǔ)償;

11.可進(jìn)行DXF(CAD)、PDF格式圖紙導(dǎo)入,進(jìn)行理論圖紙與測(cè)量結(jié)果進(jìn)行比對(duì)分析;特別是不規(guī)則的輪廓形狀時(shí),可以提供直觀圖形對(duì)比;

12.可對(duì)多次測(cè)量的輪廓曲線匹配后進(jìn)行分析測(cè)量重復(fù)性。


典型應(yīng)用有.jpg


SJ5730輪廓測(cè)量?jī)x高精度、高穩(wěn)定性、高重復(fù)性:滿足被測(cè)件測(cè)量精度要求。超高精度衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),具有12mm~14mm以上的大量程粗糙度測(cè)量范圍,分辨率達(dá)到1nm或更高。輪廓形狀和表面粗糙度一體測(cè)量—共用主體,切換不同模塊,可對(duì)同一表面進(jìn)行輪廓形狀和粗糙度測(cè)量,也可以采用選配模塊,能一次測(cè)量將輪廓形狀和粗糙度同時(shí)分析。

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