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白光干涉儀檢測(cè)設(shè)備

簡(jiǎn)要描述:SuperView W1白光干涉儀檢測(cè)設(shè)備分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,可以進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像的測(cè)量過(guò)程,通過(guò)系統(tǒng)軟件分析器件表面3D圖像并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,實(shí)現(xiàn)了器件表面形貌3D測(cè)量的效率高與簡(jiǎn)化性。

  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-08-09
  • 訪  問(wèn)  量:681

詳細(xì)介紹

品牌中圖儀器產(chǎn)地國(guó)產(chǎn)
加工定制

傳統(tǒng)的探針測(cè)量方法只能獲取到被測(cè)件少量的點(diǎn)數(shù)據(jù),效率低,無(wú)法滿足現(xiàn)代工業(yè)數(shù)字化的測(cè)量需求。而基于白光干涉技術(shù)的白光干涉儀可以進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像的測(cè)量過(guò)程,通過(guò)系統(tǒng)軟件分析器件表面3D圖像并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,實(shí)現(xiàn)了器件表面形貌3D測(cè)量的效率高與簡(jiǎn)化性,提高了測(cè)量效率,且降低了系統(tǒng)的復(fù)雜性。


中圖儀器的SuperView W1白光干涉儀檢測(cè)設(shè)備以白光干涉技術(shù)為原理,結(jié)合3D 建模算法、精密Z向掃描模塊等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描,同時(shí)通過(guò)系統(tǒng)軟件建立表面3D圖像,之后進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,獲取參數(shù),實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量。


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產(chǎn)品功能

1)具備各種類型樣品表面微觀形貌的3D輪廓重建與測(cè)量功能;

2)具備表面粗糙度和微觀輪廓的檢測(cè)功能,粗糙度范圍涵蓋0.1nm到數(shù)十微米的級(jí)別;

3)具備校平、去除形狀、去噪、濾波等數(shù)據(jù)處理功能;

4)具備粗糙度分析、輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、功能分析等表面參數(shù)分析功能;

5)具備自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)測(cè)量、自動(dòng)多區(qū)域測(cè)量、自動(dòng)拼接測(cè)量等自動(dòng)化功能;

6)具備一鍵分析、多文件分析等快速、批量分析功能;

7)具備word、excel等數(shù)據(jù)報(bào)表導(dǎo)出功能。


SuperView W1白光干涉儀檢測(cè)設(shè)備分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,操作簡(jiǎn)便,可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)。


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注意事項(xiàng)

1、現(xiàn)場(chǎng)開(kāi)箱后,核對(duì)設(shè)備型號(hào)、配件規(guī)格與數(shù)量;確認(rèn)外觀無(wú)劃傷或掉漆;確認(rèn)各部件有無(wú)損壞或異常。
2、使用中圖儀器專用玻璃標(biāo)準(zhǔn)器進(jìn)行設(shè)備的校準(zhǔn),確認(rèn)儀器符合技術(shù)協(xié)會(huì)的要求。
3、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)參照現(xiàn)行國(guó)家(或行業(yè))標(biāo)準(zhǔn)以及本技術(shù)協(xié)議為準(zhǔn)。
4、驗(yàn)收合格后,供方需和需方簽訂《產(chǎn)品驗(yàn)收?qǐng)?bào)告》。




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