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SJ5800表面粗糙度輪廓度儀器分辨率高達(dá)到0.1nm，系統(tǒng)殘差小于3nm。一鍵實(shí)現(xiàn)對(duì)軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測(cè)量和分析。它具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍，專(zhuān)業(yè)測(cè)試軸承內(nèi)外側(cè)，能夠滿足軸承行業(yè)所有的測(cè)量需求。

SJ5800接觸式粗糙度輪廓檢測(cè)儀器分辨率高達(dá)到0.1nm，系統(tǒng)殘差小于3nm，具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍，專(zhuān)業(yè)測(cè)試軸承內(nèi)外側(cè)。采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測(cè)量和分析。

SuperViewW中圖儀器光學(xué)3D輪廓測(cè)量?jī)x具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。它結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。

Chotest光學(xué)表面粗糙度輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。

SJ5800工件輪廓圓度測(cè)量?jī)x具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍，專(zhuān)業(yè)測(cè)試軸承內(nèi)外側(cè)。采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，可以對(duì)零件表面，尤其是大范圍曲面，如圓弧面和球面、異型曲面等進(jìn)行檢測(cè)。

SuperViewW光學(xué)表面輪廓白光干涉儀測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。